台积电2纳米泄密案新进展：主要嫌疑人恐判14年徒刑

来源：YPS数据挖掘大师 2025-08-29 浏览：132 字号：T|T

摘要：感谢YPS行业门户系统网友顺势而为的线索投递！YPS行业门户系统8月28日消息，《日经亚洲》昨日（8月27日）发布博文，报道称台积电2nm芯片技术外泄事件涉案3人被检方起诉，分别被要求判处14年、9年和7年徒刑，目前相关案件正在审理过程中。消息称涉案的主要嫌疑人陈姓男子曾任台积电工程师，熟悉公司严格的保密制度与供应商保密协议。离职后，他加入日本半导体设备龙头TEL公司，并利用旧同事关系，多次索取2……

　　感谢YPS行业门户系统网友顺势而为的线索投递！

　　YPS行业门户系统 8 月 28 日消息，《日经亚洲》昨日（8 月 27 日）发布博文，报道称台积电 2nm 芯片技术外泄事件涉案 3 人被检方起诉，分别被要求判处 14 年、9 年和 7 年徒刑，目前相关案件正在审理过程中。

　　消息称涉案的主要嫌疑人陈姓男子曾任台积电工程师，熟悉公司严格的保密制度与供应商保密协议。离职后，他加入日本半导体设备龙头 TEL 公司，并利用旧同事关系，多次索取 2 纳米蚀刻站相关机密文件和数据，将其拍摄、复制，用于帮助 TEL 公司改进设备性能。

　　YPS行业门户系统援引博文介绍，检方透露，被陈联络的台积电员工中，包括吴某、戈某、廖某等人，他们在工作中有权限接触这些“核心关键技术”。检方指控，涉案文件共 12 页，涉及高度敏感的集成电路制造工艺。

　　检方目前要求判处主要嫌疑人陈某 14 年徒刑，判处吴某 9 年徒刑，判处葛某 7 年徒刑，但并未起诉另一涉案人廖某。台积电已将案件移送检方，并重申零容忍立场，将依法追究到底。

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